公司多个门户是做二级域名还是做多个网站,wordpress free template,单屏风格wordpress主题,成都青羊网站建设ADC采样精度受很多因素影响#xff0c;比如电源波动、参考电压波动、输入信号波动等#xff0c;GD32 MCU内部提供了一个参考电压通道#xff0c;理论上可以优化由于电源和参考电压较大波动引入的采样误差。
如下图所示#xff0c;GD32F303 ADC内部17通道为VREFINT参考电压…ADC采样精度受很多因素影响比如电源波动、参考电压波动、输入信号波动等GD32 MCU内部提供了一个参考电压通道理论上可以优化由于电源和参考电压较大波动引入的采样误差。
如下图所示GD32F303 ADC内部17通道为VREFINT参考电压通道内部参考电压的典型数值为1.2V。 当外部参考电压波动较大的情况下如何通过内部参考电压通道提高ADC采样精度呢
比如我们采样ADC_IN0通道的电压VIN0那么采样的数值为: 其中Rin0为通道0的采样数值VIN0为通道0的输入电压VREF为参考电压。
采样完通道0后我们可以立即采样VREFINT内部参考电压那么内部采样电压采样的数值为 将公式1/公式2将得到 进而得到以下公式 由以上公式可得到通道0的电压值可通过内部参考电压以及内部参考电压的采样值来计算可不受外部参考电压的变化而影响进而提高了在外部参考电压波动较大的情况下采样误差的精度。
PS建议可在外部参考电压较大的情况下使用该方法如果外部参考电压比较准的话还是可以直接采样的。
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