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1 开关和键盘的分类
2 开关和键盘失效率的计算
2.1 Switches and keyboards
2.1.1 Base失效率
2.1.2 接触数量
2.1.3 温度循环De-rating系数 概要
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电…目录 概要
1 开关和键盘的分类
2 开关和键盘失效率的计算
2.1 Switches and keyboards
2.1.1 Base失效率
2.1.2 接触数量
2.1.3 温度循环De-rating系数 概要
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十五章开关和键盘的失效率预测模型。
1 开关和键盘的分类
在IEC TR 62380中开关和键盘只分为一类
Switches and keyboards
2 开关和键盘失效率的计算
2.1 Switches and keyboards
Switches and keyboards失效率的预测模型 式中
λ失效率单位为十亿分之一每小时10^-8/h
λ0base失效率单位为十亿分之一每小时10^-8/h
N接触的数量
(πn)i: 与第i阶段封装、年热循环次数相关的影响系数 ΔT任务剖面第i阶段的温变幅值。
2.1.1 Base失效率
根据元器件的类型选取base失效率 2.1.2 接触数量
根据元器件的类型选择接触数量的数值计算方式 2.1.3 温度循环De-rating系数
根据工作循环次数选择πn的计算计算模型即可计算得出πn的值 温度循环De-rating系数的计算参考
ISO 26262中的失效率计算Mission profile的使用
